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DIN 4000-69-1993 电气和电子产品用支座的产品特性图表

作者:标准资料网 时间:2024-05-19 15:03:41  浏览:8222   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Tabularlayoutsofarticlecharacteristicsforholdersforelectricalandelectronicpurposes
【原文标准名称】:电气和电子产品用支座的产品特性图表
【标准号】:DIN4000-69-1993
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1993-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气元件;物资清单;半导体;事物特性;灯座;集成电路;灯头;电气工程;合作;物品特性表;电子设备及元件;座孔;石英;数字代码;继电器
【英文主题词】:Coordination;Electricalcomponents;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;Inventories;Lampcaps;Lampholders;Numericcodes;Quartz;Relays;Semiconductors;Sockets;Subjectcharacteristics;Tabularlayoutofarticlecharacteristics
【摘要】:
【中国标准分类号】:K16
【国际标准分类号】:21_020;29_140_10
【页数】:6P;A4
【正文语种】:德语


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【英文标准名称】:StandardTestMethodsforMinority-CarrierLifetimeinBulkGermaniumandSiliconbyMeasurementofPhotoconductivityDecay
【原文标准名称】:光电导衰减测量法测定大块锗和硅中少数载流子寿命的标准试验方法
【标准号】:ASTMF28-2002
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;锗;散装;测量;电子工程;寿命
【英文主题词】:carrierlifetime;germanium;minoritycarriers;photoconductivitydecay;silicon;singlecrystalsilicon
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thesetestmethodscoverthemeasurementofminoritycarrierlifetimeappropriatetocarrierrecombinationprocessesinbulkspecimensofextrinsicsingle-crystalgermaniumorsili
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:9P.;A4
【正文语种】:


基本信息
标准名称:金属铬化学分析方法 高氯酸脱水重量法测定硅量
英文名称:Methods for chemical analysis of chromium metal;The perchloric acid dehydration-gravimetric method for the determination of silicon content
中标分类: 冶金 >> 金属化学分析方法 >> 钢铁与铁合金分析方法
ICS分类: 冶金 >> 有色金属 >> 镍、铬及其合金
替代情况:替代YB 582-1965;被GB/T 4702.2-2008代替
发布部门: 中国钢铁工业协会
发布日期:1984-10-04
实施日期:1985-09-01
首发日期:1984-10-04
作废日期:2008-11-01
主管部门:中国钢铁工业协会
归口单位: 全国钢标准化技术委员会
起草单位:湖南铁合金厂
出版社:中国标准出版社
出版日期:1985-09-01
页数:2页
适用范围

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所属分类: 冶金 金属化学分析方法 钢铁与铁合金分析方法 冶金 有色金属 镍 铬及其合金